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简要描述:变温电阻测试系统(RMS)采用四探针法技术,具备检测材料电阻率的能力。可用于测量半导体块状样品、半金属样品(康铜、镍、铋等)以及部分非金属样品(石墨、碳材料等)的电阻率。广泛应用于温控、温差发电、冷却电子器件(红外, 远红外探测器, 高速芯片等)、医疗器材及高温超导以及航天飞行器、潜艇用空调设备等许多重要领域。
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